评价平板探测器成像质量的性能指标主要有两个:量⼦探测效率(DQE)和空间分辨率。DQE决定了平板探测器对不同组织密度差异的分辨能⼒;⽽空间分辨率决定了对组织细微结构的分辨能⼒。考察 DQE和空间分辨率可以评估平板探测器的成像能⼒。